為什么測試探針會(huì )出現彈簧斷裂?
文章出處:常見(jiàn)問(wèn)題 責任編輯:深圳市華榮華電子科技有限公司 閱讀量:- 發(fā)表時(shí)間:2022-04-27 00:00:00
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測試探針內部的彈簧發(fā)黑并有大量的未知污染物存在,所以首先你們需要確認這些污染物是哪里來(lái)的,污染物附著(zhù)在彈簧間隙中會(huì )加速彈簧使用壽命的消耗!另外,測試探針通過(guò)較大電流時(shí),也會(huì )導致彈簧使用壽命的縮短,所以請確認測試探針在實(shí)際使用過(guò)程中的測試電流值!
如果都是在4MM標準行程下測試,會(huì )出現彈簧斷裂,建議,你們最好重新使用行程針去確認下測試探針的實(shí)際壓縮行程,如果過(guò)壓,還請下調一下測試探針安裝高度,通常測試探針的壓縮行程保持在3.5-4mm之間都是沒(méi)有問(wèn)題的,所以你們也可以適當的下調一下安裝高度。有的伙伴在測試產(chǎn)品過(guò)程中,測試探針很容易在被測試的產(chǎn)品上留下印子,那么在這種情況下測試探針的彈力盡量選擇小一點(diǎn)的彈力,頭型要優(yōu)先考慮平頭或者圓頭的測試探針。